Rasterkraftmikroskopische Untersuchungen an dünnen epitaktisch kristallisierten Filmen des Polyethylens

Abstract

Der erste Teil dieser Arbeit beschäftigt sich mit der analytischen Beschreibung des Intermittierenden Modus des AFM auf Grundlage einer harmonischen Näherung. Die im Rahmen dieser Näherung verwendeten effektiven Größen erlauben ein einfaches und intuitives Verständnis der Zusammenhänge zwischen Messgrößen und Materialeigenschaften. Am Beispiel eines teilkristallinen Polyethylens wird außerdem die für Phasenkontrast notwendige minimale Eindrigung des Cantilevers in die Probe bestimmt. Im zweiten Teil dieser Arbeit wird die teilkristalline Struktur nach epitaktischer und nichtepitaktischer Kristallisation in verschieden dünnen Filmen des Polyethylens mittels AFM untersucht. Anhand der gefundenen, spezifischen Eigenschaften der teilkristallinen Struktur nach epitaktischer Kristallisation kann der Kippwinkel der Kettenachsen gegen die Lamellennormale erstmals eindeutig bestimmt werden, welcher wiederum im direkten Zusammenhang zur Anzahl der Rückfaltungen der Ketten an der Lamellenoberfläche steht.