Photoelektronenbeugung an Übergangsmetalloxiden

Abstract

In der vorliegenden Arbeit werden Simulationen mit dem Mehrfachstreu-Cluster-Modell (MSCM) durchgeführt. Es wird gezeigt, dass der einfache Ansatz des Vorwärtsstreumodells wegen starker Interferenzen nicht zur Bestimmung der Struktur von 3d-Übergangsmetallmonoxidfilmen ausreicht. Die Struktur von ultradünnen Filmen aus zwei Experimenten (MnO/Ag(001), 0.5-20ML) wird im Rahmen einer R-Faktor-Analyse bestimmt. Dabei werden simulierte Röntgenphotoelektronenbeugungs-Spektren (XPD-Spektren) zu verschiedenen Strukturmodellen mit den experimentell gemessenen Spektren verglichen. Alle Filme weisen eine tetragonale Verzerrung auf, die vom Wachstumsmechanismus abhängt (Temperatur und Dauer des Temperns).