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Please use this identifier to cite or link to this item: http://dx.doi.org/10.25673/1003
Title: Analytische Transmissionselektronenmikroskopie an polymorphen Siliziumnanostrukturen
Author(s): Schade, Martin
Advisor(s): Leipner, Hartmut S., PD Dr.
Schilling, Jörg, Prof. Dr.
Meyer, Joachim, Prof. Dr.
Granting Institution: Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg
Issue Date: 2013
Extent: Online-Ressource (130 Bl. = 21,49 mb)
Type: Hochschulschrift
Exam Date: 23.10.2013
Language: German
Publisher: Universitäts- und Landesbibliothek Sachsen-Anhalt
URN: urn:nbn:de:gbv:3:4-11037
Subjects: Silicium
Hochdruckmodifikation
Elektronenmikroskopie
Online-Publikation
Hochschulschrift
Abstract: Die vorliegende Dissertation befasst sich mit der elektronenmikroskopischen Charakterisierung von Si-Hochdruckphasen mit dem Ziel der Aufklärung der Mechanismen, die zu ihrer Entstehung in unterschiedlichen Si-basierten Systemen führen. Als Modellsystem für spektroskopische Charakterisierungen erfolgte in Indentierungs- und Ritzexperimenten die gezielte Herstellung der Phasen Si-III, Si-IV, Si-XII und Si-XIII. Erstmalig werden Berechnungen der s,d-artigen pDOS dieser Hochdruckphasen mittels Dichtefunktionaltheorie sowie experimentelle EEL-Spektren ihrer L2,3-Kanten präsentiert. Eine deutliche Veränderung der kantennahen Feinstruktur im Vergleich zu Referenzspektren der Phase Si-I bzw. a-Si ist gezeigt. Im zweiten Teil der Dissertation werden materialwissenschaftliche Anwendungen präsentiert. So werden u. a. die Mechanismen diskutiert, die zur Entstehung von Si-Hochdruckphasen in Rippeln bei der wiederholten Interaktion von fs-Laserpulsen mit Si-Oberflächen führen.
The present thesis addresses the characterization of Si high-pressure phases by transmission electron microscopy in order to elucidate the mechanisms leading to their formation in different Si-based materials. The specific fabrication of the high-pressure phases Si-III, Si-IV, Si-XII and Si-XIII by means of indentation and scratching, respectively, served as model system for spectroscopic characterizations. Calculations of the s,d-like pDOS of these phases via density functional theory are presented for the first time together with experimental EEL-spectra of their L2,3-edges. A distinct alteration of the near-edge fine structure becomes evident compared to reference spectra of Si-I and a-Si. The second part of the thesis presents examples of applications in materials science, e.g. the discussion of the mechanisms leading to the generation of Si high-pressure phases inside ripples after the repeated interaction of fs-laser pulses with Si surfaces.
URI: https://opendata.uni-halle.de//handle/1981185920/7902
http://dx.doi.org/10.25673/1003
Open access: Open access publication
Appears in Collections:Medizin und Gesundheit

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