Please use this identifier to cite or link to this item: http://dx.doi.org/10.25673/33889
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorSchwarz, Jürgen-
dc.date.accessioned2020-07-17T11:11:35Z-
dc.date.available2020-07-17T11:11:35Z-
dc.date.issued1986-
dc.identifier.urihttps://opendata.uni-halle.de//handle/1981185920/34082-
dc.identifier.urihttp://dx.doi.org/10.25673/33889-
dc.format.extent1 Online-Ressource (7 Seiten)-
dc.language.isoger-
dc.rights.urihttps://creativecommons.org/licenses/by/4.0/-
dc.subjectStromrichter-
dc.subjectElektronik-
dc.subjectHalbleiterelektronik-
dc.subject.ddcDDC::500 Naturwissenschaften und Mathematik::530 Physik-
dc.titleGrundzüge eines statistisch begründeten Dimensionierungsverfahrens zur Bestimmung der maximal zulässigen Belastung von Halbleiterstromrichtern-
dc.typeArtikel-
local.versionTypepublishedVersion-
local.openaccesstrue-
dc.identifier.ppn1725081059-
local.bibliographicCitation.year1986-
cbs.sru.importDate2020-07-17T11:03:19Z-
local.bibliographicCitationEnthalten in Elektrotechnische Zeitschrift / ETZ-Archiv - Berlin : VDE-Verl., 1978-
local.accessrights.dnbfree-
Appears in Collections:Publikationen