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http://dx.doi.org/10.25673/34373Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Schwarz, Jürgen | - |
| dc.date.accessioned | 2020-09-14T07:42:51Z | - |
| dc.date.available | 2020-09-14T07:42:51Z | - |
| dc.date.issued | 1985 | - |
| dc.identifier.uri | https://opendata.uni-halle.de//handle/1981185920/34569 | - |
| dc.identifier.uri | http://dx.doi.org/10.25673/34373 | - |
| dc.format.extent | 1 Online-Ressource (4 Seiten) | - |
| dc.language.iso | ger | - |
| dc.rights.uri | http://rightsstatements.org/vocab/InC/1.0/ | - |
| dc.subject | Halbleiter | - |
| dc.subject | Halbleiterphysik | - |
| dc.subject.ddc | DDC::500 Naturwissenschaften und Mathematik::530 Physik::537 Elektrizität, Elektronik | - |
| dc.title | Junction- und Case-Temperatur : Verlauf von Sperrschicht- und Gehäusetemperatur bei einseitig gekühlten Leistungshalbleitern | - |
| dc.type | Artikel | - |
| local.versionType | publishedVersion | - |
| local.subject.keywords | Es wird ein Verfahren zur Berechnung des Sperrschichttemperaturverlaufes von einseitig gekühlten Halbleiterbauelementen vorgestellt. Dabei gehen als bekannte Größen nur der erzeugte Verlustleistungssprung, der Temperaturverlauf im Gehäuse und das thermische Ersatzschaltbild des Halbleiterbauelementes ein. Daten und Eigenschaften der Kühleinrichtung können unbekannt und sogar nichtlinear sein. | - |
| local.openaccess | true | - |
| dc.identifier.ppn | 1731771827 | - |
| local.bibliographicCitation.year | 1985 | - |
| cbs.sru.importDate | 2020-09-14T07:29:25Z | - |
| local.bibliographicCitation | Enthalten in Elektronik Journal | - |
| local.accessrights.dnb | free | - |
| Appears in Collections: | Publikationen | |
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| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Junction- und Case-Temperatur_J.Schwarz.pdf | 1.17 MB | Adobe PDF |  View/Open |