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http://dx.doi.org/10.25673/118370
Titel: | Evaluierung der elektrischen und magnetischen Nahfeldmessung zur Identifikation nicht authentischer elektrischer Halbleiterkomponenten |
Autor(en): | Juwien, Adrian |
Gutachter: | Hantscher, Sebastian |
Körperschaft: | Hochschule Magdeburg-Stendal |
Erscheinungsdatum: | 2024-03-17 |
Umfang: | 1 Online-Ressource (PDF-Datei, 113 Seiten) |
Typ: | Hochschulschrift![]() |
Art: | Bachelorarbeit |
Sprache: | Deutsch |
URN: | urn:nbn:de:gbv:551-1981185920-1203290 |
Schlagwörter: | Nahfeldmessung Magnetisch Elektrisch Halbleiter |
Zusammenfassung: | Im Rahmen der vorliegenden Bachelorarbeit wurde ein zerstörungsfreies Messystem zur Identifizierung von nicht authentischen Halbleiterkomponenten entwickelt und implementiert. Die Messvorrichtung und die konzipierte Methodik verwenden elektrische und magnetische Nahfeldsonden, um die elektromagnetischen Nahfelder von elektronischen Baustellen zu untersuchen. Mit der Evaluierung der elektrischen und magnetischen Nahfelder können Unterschiede zwischen einer originalen Referenzprobe und einer potenziellen Fälschung mittels spektraler Signalverarbeitung aufgedeckt werden. Diese Bachelorarbeit nimmt dabei Bezug auf die Herstellung der elektrischen und magnetischen Nahfeldsonden, die Implementierung des Sondenpositionierungssystems Pegasus sowie des Datenerfassungssystems, welches eine Analog-Digital-Konverter-Messkarte umfasst. Die Bedienung des Messystems erfolgt über die entwickelte Softwareschnittstelle, die Pegasus Scanner App genannt wird. Zur Identifizierung der elektronischen Fälschungen werden die Nahfeldsonden in einem rasterförmigen Muster mit einem minimalen Abstand über die Oberfläche der Proben bewegt, um ein Messergebnis der kapazitiv eingekoppelten oder induzierten Spannungen der elektrischen oder magnetischen Feldquellen zu erhalten. Die Analyse der Oberflächenmessergebnisse ermöglicht die Identifizierung von elektronischen Fälschungen, jedoch können recycelte Originalbauteile mit manipulierten Bezeichnungen oder identische klone von originalen Bauteilen durch die Feldverteilung nicht detektiert werden. Eine elektronische Fälschung ist anhand der unterschiedlichen Spannungspegel durch Abweichungen in der Feldquellenlokalität sowie durch divergente Frequenzsprektren zu unterscheiden. |
URI: | https://opendata.uni-halle.de//handle/1981185920/120329 http://dx.doi.org/10.25673/118370 |
Open-Access: | ![]() |
Nutzungslizenz: | ![]() |
Enthalten in den Sammlungen: | Fachbereich Ingenieurwissenschaften / Industriedesign |
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