Please use this identifier to cite or link to this item:
http://dx.doi.org/10.25673/1003
Full metadata record
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.referee | Leipner, Hartmut S., PD Dr. | - |
dc.contributor.referee | Schilling, Jörg, Prof. Dr. | - |
dc.contributor.referee | Meyer, Joachim, Prof. Dr. | - |
dc.contributor.author | Schade, Martin | - |
dc.date.accessioned | 2018-09-24T11:05:58Z | - |
dc.date.available | 2018-09-24T11:05:58Z | - |
dc.date.issued | 2013 | - |
dc.identifier.uri | https://opendata.uni-halle.de//handle/1981185920/7902 | - |
dc.identifier.uri | http://dx.doi.org/10.25673/1003 | - |
dc.description.abstract | Die vorliegende Dissertation befasst sich mit der elektronenmikroskopischen Charakterisierung von Si-Hochdruckphasen mit dem Ziel der Aufklärung der Mechanismen, die zu ihrer Entstehung in unterschiedlichen Si-basierten Systemen führen. Als Modellsystem für spektroskopische Charakterisierungen erfolgte in Indentierungs- und Ritzexperimenten die gezielte Herstellung der Phasen Si-III, Si-IV, Si-XII und Si-XIII. Erstmalig werden Berechnungen der s,d-artigen pDOS dieser Hochdruckphasen mittels Dichtefunktionaltheorie sowie experimentelle EEL-Spektren ihrer L2,3-Kanten präsentiert. Eine deutliche Veränderung der kantennahen Feinstruktur im Vergleich zu Referenzspektren der Phase Si-I bzw. a-Si ist gezeigt. Im zweiten Teil der Dissertation werden materialwissenschaftliche Anwendungen präsentiert. So werden u. a. die Mechanismen diskutiert, die zur Entstehung von Si-Hochdruckphasen in Rippeln bei der wiederholten Interaktion von fs-Laserpulsen mit Si-Oberflächen führen. | - |
dc.description.abstract | The present thesis addresses the characterization of Si high-pressure phases by transmission electron microscopy in order to elucidate the mechanisms leading to their formation in different Si-based materials. The specific fabrication of the high-pressure phases Si-III, Si-IV, Si-XII and Si-XIII by means of indentation and scratching, respectively, served as model system for spectroscopic characterizations. Calculations of the s,d-like pDOS of these phases via density functional theory are presented for the first time together with experimental EEL-spectra of their L2,3-edges. A distinct alteration of the near-edge fine structure becomes evident compared to reference spectra of Si-I and a-Si. The second part of the thesis presents examples of applications in materials science, e.g. the discussion of the mechanisms leading to the generation of Si high-pressure phases inside ripples after the repeated interaction of fs-laser pulses with Si surfaces. | eng |
dc.description.statementofresponsibility | von Martin Schade | - |
dc.format.extent | Online-Ressource (130 Bl. = 21,49 mb) | - |
dc.language.iso | ger | - |
dc.publisher | Universitäts- und Landesbibliothek Sachsen-Anhalt | - |
dc.rights.uri | http://rightsstatements.org/vocab/InC/1.0/ | - |
dc.subject | Silicium | - |
dc.subject | Hochdruckmodifikation | - |
dc.subject | Elektronenmikroskopie | - |
dc.subject | Online-Publikation | - |
dc.subject | Hochschulschrift | - |
dc.subject.ddc | 530 | - |
dc.subject.ddc | 610 | - |
dc.title | Analytische Transmissionselektronenmikroskopie an polymorphen Siliziumnanostrukturen | - |
dcterms.dateAccepted | 2013-10-23 | - |
dcterms.type | Hochschulschrift | - |
dc.type | PhDThesis | - |
dc.identifier.urn | urn:nbn:de:gbv:3:4-11037 | - |
local.publisher.universityOrInstitution | Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg | - |
local.subject.keywords | Silizium; Hochdruckphasen; HTEM; EELS; Elektronenbeugung; Laser-Kristallisation; LIPSS | - |
local.subject.keywords | silicon; high-pressure phases; HRTEM; EELS; electron diffraction; laser crystallization; LIPSS | eng |
local.openaccess | true | - |
dc.identifier.ppn | 774544465 | - |
local.accessrights.dnb | free | - |
Appears in Collections: | Medizin und Gesundheit |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
Dissertation_UNIBIB.pdf | 22.01 MB | Adobe PDF | View/Open |