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DC ElementWertSprache
dc.contributor.authorSchäfer, Sebastian-
dc.contributor.authorWillot, François-
dc.contributor.authorBale, Hrishikesh-
dc.contributor.authorNorouzi Rad, Mansoureh-
dc.contributor.authorKelly, Stephen T.-
dc.contributor.authorEnke, Dirk-
dc.contributor.authorMartins de Souza e Silva, Juliana-
dc.date.accessioned2025-03-10T13:40:12Z-
dc.date.available2025-03-10T13:40:12Z-
dc.date.issued2025-
dc.identifier.urihttps://opendata.uni-halle.de//handle/1981185920/120470-
dc.identifier.urihttp://dx.doi.org/10.25673/118512-
dc.language.isoeng-
dc.rights.urihttps://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/-
dc.subject.ddc530-
dc.titleIntermittent in-situ high-resolution X-ray microscopy of 400-nm porous glass under uniaxial compression : study of pore changes and crack formationeng
dc.typeArticle-
local.versionTypepublishedVersion-
local.bibliographicCitation.journaltitleScripta materialia-
local.bibliographicCitation.volume255-
local.bibliographicCitation.pagestart1-
local.bibliographicCitation.pageend5-
local.bibliographicCitation.publishernameElsevier Science-
local.bibliographicCitation.publisherplaceAmsterdam [u.a.]-
local.bibliographicCitation.doi10.1016/j.scriptamat.2024.116396-
local.openaccesstrue-
dc.identifier.ppn1919446478-
cbs.publication.displayform2025-
local.bibliographicCitation.year2025-
cbs.sru.importDate2025-03-10T13:39:04Z-
local.bibliographicCitationEnthalten in Scripta materialia - Amsterdam [u.a.] : Elsevier Science, 1996-
local.accessrights.dnbfree-
Enthalten in den Sammlungen:Open Access Publikationen der MLU

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