Bitte benutzen Sie diese Kennung, um auf die Ressource zu verweisen: http://dx.doi.org/10.25673/118512
Titel: Intermittent in-situ high-resolution X-ray microscopy of 400-nm porous glass under uniaxial compression : study of pore changes and crack formation
Autor(en): Schäfer, SebastianIn der Gemeinsamen Normdatei der DNB nachschlagen
Willot, François
Bale, Hrishikesh
Norouzi Rad, Mansoureh
Kelly, Stephen T.
Enke, DirkIn der Gemeinsamen Normdatei der DNB nachschlagen
Martins de Souza e Silva, Juliana
Erscheinungsdatum: 2025
Art: Artikel
Sprache: Englisch
URI: https://opendata.uni-halle.de//handle/1981185920/120470
http://dx.doi.org/10.25673/118512
Open-Access: Open-Access-Publikation
Nutzungslizenz: (CC BY-NC-ND 4.0) Creative Commons Namensnennung - Nicht kommerziell - Keine Bearbeitungen 4.0 International(CC BY-NC-ND 4.0) Creative Commons Namensnennung - Nicht kommerziell - Keine Bearbeitungen 4.0 International
Journal Titel: Scripta materialia
Verlag: Elsevier Science
Verlagsort: Amsterdam [u.a.]
Band: 255
Originalveröffentlichung: 10.1016/j.scriptamat.2024.116396
Seitenanfang: 1
Seitenende: 5
Enthalten in den Sammlungen:Open Access Publikationen der MLU

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