Please use this identifier to cite or link to this item: http://dx.doi.org/10.25673/511
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.refereeLeipner, Hartmut, Dr.-
dc.contributor.refereeNielsch, Kornelius, Prof. Dr.-
dc.contributor.refereeVölklein, Friedemann, Prof. Dr.-
dc.contributor.authorBoor, Johannes, de-
dc.date.accessioned2018-09-24T08:29:38Z-
dc.date.available2018-09-24T08:29:38Z-
dc.date.issued2011-
dc.identifier.urihttps://opendata.uni-halle.de//handle/1981185920/7153-
dc.identifier.urihttp://dx.doi.org/10.25673/511-
dc.description.abstractDiese Dissertation setzt sich aus einer Einführung in das Gebiet der Thermoelektrik sowie 3 weiteren Kapiteln zusammen, welche jeweils einen Aspekt von nanostrukturiertem Silicium im Hinblick auf eine mögliche Verwendung als thermoelektrisches Materials untersuchen. In Kapitel 2 wird die Herstellung einkristalliner und homogener Silicium Nanodrahtfelder unter Verwendung von Laserinterferenzlithografie und nasschemischen Ätzen gezeigt. Mit den verwendeten Methoden konnten Drähte mit Durchmessern bis zu 65 nm großflächig hergestellt werden. In Kapitel 3 wird eine Messmethode zur vollständigen Charakterisierung von thermoelektrischen Materialien vorgestellt. Diese im Rahmen der Arbeit entwickelte Messmethode erlaubt die quasi-gleichzeitige Messung der elektrischen und der thermischen Leitfähigkeit sowie des Seebeckkoeffizienten und ther thermoelektrischen Gütezahl. In Kapitel 4 werden die thermoelektrischen Eigenschaften von porösem Silicium untersucht. Messungen der elektrischen und thermischen Leitfähigkeit sowie der Gütezahl zeigen, dass es möglich ist, die thermoelektrischen Eigenschaften gegenüber Bulk-Silicium zu verbessern.-
dc.description.statementofresponsibilityvon Johannes de Boor-
dc.format.extentOnline-Ressource (X, 104, L S. = 10,26 mb)-
dc.language.isoeng-
dc.publisherUniversitäts- und Landesbibliothek Sachsen-Anhalt-
dc.rights.urihttp://rightsstatements.org/vocab/InC/1.0/-
dc.subjectThermoelektrizität-
dc.subjectSilicium-
dc.subjectNanodraht-
dc.subjectOnline-Publikation-
dc.subjectHochschulschrift-
dc.subject.ddc530-
dc.titleFabrication and thermoelectric characterization of nanostructured Silicon-
dcterms.dateAccepted2011-06-08-
dcterms.typeHochschulschrift-
dc.typePhDThesis-
dc.identifier.urnurn:nbn:de:gbv:3:4-5657-
local.publisher.universityOrInstitutionMartin-Luther-Universität Halle-Wittenberg-
local.subject.keywordsThermoelektrik; poröses Silicium; Siliciumnanodrähte; Messtechnik; 3-omega-Methode; van der Pauw-Methode; Laserinterferenzlithografie; nasschemisches Ätzen; thermische Eigenschaften; elektrische Eigenschaften-
local.subject.keywordsthermoelectric; porous silicon; silicon nanowires; measurement technique; 3-omega method; van der Pauw method; laser interference lithography; wet chemical etching; thermal properties; electrical propertieseng
local.openaccesstrue-
dc.identifier.ppn662475143-
local.accessrights.dnbfree-
Appears in Collections:Physik

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Fabrication and thermoelectric characterization of nanostructured Silicon.pdf10.5 MBAdobe PDFThumbnail
View/Open