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Please use this identifier to cite or link to this item: http://dx.doi.org/10.25673/556
Title: Rasterkraftmikroskopische Untersuchungen an dünnen epitaktisch kristallisierten Filmen des Polyethylens
Author(s): Henze, Thomas
Advisor(s): Thurn-Albrecht, Thomas, Prof. Dr.
Trimper, Steffen, Prof. Dr.
Magerle, Robert, Prof. Dr.
Granting Institution: Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg
Issue Date: 2011
Extent: Online-Ressource (IV, 151 S. = 10,61 mb)
Type: Hochschulschrift
Exam Date: 06.07.2011
Language: German
Publisher: Universitäts- und Landesbibliothek Sachsen-Anhalt
URN: urn:nbn:de:gbv:3:4-6022
Subjects: Polyethylene
Epitaxieschicht
Rasterkraftmikroskop
Online-Publikation
Hochschulschrift
Abstract: Der erste Teil dieser Arbeit beschäftigt sich mit der analytischen Beschreibung des Intermittierenden Modus des AFM auf Grundlage einer harmonischen Näherung. Die im Rahmen dieser Näherung verwendeten effektiven Größen erlauben ein einfaches und intuitives Verständnis der Zusammenhänge zwischen Messgrößen und Materialeigenschaften. Am Beispiel eines teilkristallinen Polyethylens wird außerdem die für Phasenkontrast notwendige minimale Eindrigung des Cantilevers in die Probe bestimmt. Im zweiten Teil dieser Arbeit wird die teilkristalline Struktur nach epitaktischer und nichtepitaktischer Kristallisation in verschieden dünnen Filmen des Polyethylens mittels AFM untersucht. Anhand der gefundenen, spezifischen Eigenschaften der teilkristallinen Struktur nach epitaktischer Kristallisation kann der Kippwinkel der Kettenachsen gegen die Lamellennormale erstmals eindeutig bestimmt werden, welcher wiederum im direkten Zusammenhang zur Anzahl der Rückfaltungen der Ketten an der Lamellenoberfläche steht.
URI: https://opendata.uni-halle.de//handle/1981185920/7384
http://dx.doi.org/10.25673/556
Open access: Open access publication
Appears in Collections:Physik

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